反射式膜厚測(cè)量儀

A3-SR 系列反射式膜厚測(cè)量儀可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR系列可用于測(cè)量2納米到3000微米的膜厚，測(cè)量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR 還可用于同時(shí)對(duì)折射率和膜厚進(jìn)行測(cè)量。配手持式探頭,A3-SR 可以用來一鍵式測(cè)量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量內(nèi)飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

此外，A3-SR 還可用于測(cè)量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內(nèi)。A3-SR進(jìn)行測(cè)量簡(jiǎn)單可靠，實(shí)際測(cè)量采樣時(shí)間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys 軟件進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量，每次測(cè)量時(shí)間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以內(nèi)的模型并可對(duì)多層膜厚參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫，同時(shí)支持函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

同時(shí)，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對(duì)材料，菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測(cè)量結(jié)果。目標(biāo)應(yīng)用：半導(dǎo)體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測(cè)量藍(lán)寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚，顏色測(cè)量卷對(duì)卷柔性涂布光學(xué)膜其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合